冷熱沖擊熱應力復合試驗箱

簡要描述：冷熱沖擊熱應力復合試驗箱對不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。

所屬分類：冷熱沖擊應力篩選試驗箱

更新時間：2024-05-21

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	產地類別	國產
應用領域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

冷熱沖擊熱應力復合試驗箱對不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。改變了傳統進行溫度循環、高低溫沖擊(兩箱)、高低溫+常溫沖擊(三箱)、應力篩選ESS，至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗，需耗費許多添購設備&占用空間的硬件成本，一次解決您的需求，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整，我們的創新系統自動幫您搞定，慶聲秉持著符合規范的原則，結合貼心的創新功能與技術，期待您詳細了解。

冷熱沖擊熱應力復合試驗箱特點：

1、可執行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；

2、可執行慢速溫度循環[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設備的溫變試驗Laboratory Class；

3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；

4、待測品自動負載調整免手動設定預冷預熱，可依據待測品負載量系統自動調整。

5、精靈快捷鍵人性化快速進入選單高低溫常溫沖擊；

6、超低除霜次數高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗時間與能耗。

7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行；

9、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；

10、感測器放置測試區出（回）風口賽思設計符合實驗有效性；

11、機臺多處報警監測，配置無線遠程報警功能；

測試規范：

標準：滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

產品&規范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環數	循環時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產品應力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16電子設備環境應力篩選	設備或系統	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19電子設備環境應力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內部達到溫度10℃時
NABMAT-9492美軍制造篩選	設備或系統	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內部達到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達到溫度穩定的時間
GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南	設備或系統	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達到溫度穩定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——

斜率可控范圍：

SR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、汽車引擎蓋下環境)
	11℃/min→	無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試
	5℃/min→	錫須溫度循環試驗

技術規格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
預冷、預熱范圍	-00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃
應力沖擊范圍	-10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃
時間設定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
分辨率	0.01℃/min
溫度均勻度	±3.00℃以內（under℃3.00℃）
溫度應力變化范圍	+5℃～+30℃/min(+40℃)
沖擊試驗溫度	-65℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)
三箱沖擊溫度范圍	-55℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)