溫度應力試驗箱

簡要描述：溫度應力試驗箱采用新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術控制調節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。

所屬分類：溫度沖擊應力篩選試驗箱

更新時間：2024-05-23

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	產地類別	國產
應用領域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

溫度應力試驗箱TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]：

30℃/min→ 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗；
28℃/min→ LED汽車照明燈；
25℃/min→ PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應；
24℃/min→ 光纖連接頭；
20℃/min→ IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命；
17℃/min→ MOTO；
15℃/min→ IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)；
11℃/min→ 無鉛CSP產品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A；
10℃/min→ 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試；
5℃/min→ 錫須溫度循環(huán)試驗；

溫度應力試驗箱技術規(guī)格：

內箱尺寸：W x D x H cm 40×35×35、 50×50×40、 60×50×50、 70×60×60
外箱尺寸：W x D x H cm 140×165×165、 150×200×175、 160×225×185、 170×260×193
溫度范圍： -80.00℃～+200.00℃；
低溫沖擊范圍： -10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃；
高溫沖擊范圍： +60.00℃～+150.00℃；
時間設定范圍： 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment；
溫度波動度： ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）；
溫度偏差： ≤±2℃（-65℃～+150℃）；
溫度均勻度：＜2.00℃以內；

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