賽思解說什么是可靠性測(cè)試

發(fā)布時(shí)間： 2016-11-17　　點(diǎn)擊次數(shù)： 1987次

賽思解說什么是可靠性測(cè)試：

電子元器件的可靠性指標(biāo)通常用失效率來表示。而對(duì)電子設(shè)備而言，除特種設(shè)備外一號(hào)是可以修復(fù)的，其可靠性指標(biāo)往往用平均*工作時(shí)間（MTBF）來表示。電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)不同于產(chǎn)品的電氣性能指標(biāo)，它有時(shí)間性、綜合性和統(tǒng)計(jì)性等特點(diǎn)，它不能像電氣性能指標(biāo)那樣直接用儀器，儀表測(cè)量，―股是通過5面兩種途徑獲得：

一是將產(chǎn)品放在現(xiàn)場(chǎng)使用的典型條件下工作―個(gè)規(guī)定的時(shí)間，根據(jù)累計(jì)工作時(shí)間和累計(jì)失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得。這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證值，獲得產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證證值的方法叫現(xiàn)場(chǎng)可靠性測(cè)試。

二是通過在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行可靠性測(cè)試的方法獲得產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)，這種方法是在實(shí)驗(yàn)室甲用一種規(guī)定的和受控的工作條件及環(huán)境條件，模擬現(xiàn)場(chǎng)的使用條件和產(chǎn)品在現(xiàn)場(chǎng)所遇到的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行試驗(yàn)，將累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間和累計(jì)失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得，這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的驗(yàn)證值

這樣，對(duì)“什么是可靠性測(cè)試＂的問題可以簡單地回答為：為評(píng)價(jià)分析產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)，就叫可靠性試驗(yàn)，也可以這樣說，凡是為提高產(chǎn)品可靠性（如老煉和篩選試驗(yàn)）考核產(chǎn)品可靠性（如例行試驗(yàn)）評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性（如壽命試驗(yàn)）和分析產(chǎn)品可靠性（如失效分析試驗(yàn)）的試驗(yàn)通稱可靠性試驗(yàn)，除特別注明外，通常所稱的可靠性試驗(yàn)，就是指室內(nèi)的模擬可靠性測(cè)試：即在實(shí)驗(yàn)室里，用模擬現(xiàn)場(chǎng)工作條件和環(huán)境條件進(jìn)行試驗(yàn)，借以確定電子元器件可靠性的方法，就叫做可靠性測(cè)試。

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